ناقشت دراسة علمية أعدّها فريق بحثي مشترك من جامعتي المستنصرية وذي قار، تأثير زمن الاسترخاء بحرارة حاملات الشحنة في المكبر الضوئي لشبه الموصل النقطي الكمي نوع (InAs / GaAs).

وتهدف الدراسة المكون فريقها البحثي من التدريسي بالجامعة المستنصرية الدكتور فراس صبيح محمد والتدريسيين بجامعة ذي قار الدكتور أحمد حمود فليح والدكتور أمين حبيب الخرسان، إلى بحث تأثير درجه حرارة الحاملات في التركيب الكمي النانوي، لا سيما وأن المعادلات التي تصف هذه الظاهرة لم تتضمن الخصائص المميزة لها، كما أنها اعتمدت على نماذج كلاسيكية أو كمية تحاكي التكميم الكمي في بعد واحد.

وتضمنت الدراسة التي تم نشرها في مجلة عالمية مصنفة ضمن مستوعب كلارفيت، قياس درجة حرارة حاملات الشحنة في المكبر البصري في النقطة الكمية (QD)، فضلاً عن التحري عنها نظرياً باستعمال نظام الإثارة – المزدوج.

وتوصلت نتائج الدراسة إلى أن التيار العالي يعطي درجة حرارة عالية للحامل، فيما يؤدي التيار الواطئ إلى انخفاض المنحنى، وأن زيادة وقت تسخين الحاملات ترفع من درجة حرارتها، مع ظهور استرخاء بطيء لكل من طبقة الترطيب والاسترخاء ما بين النقط، وأن عملية امتصاص الحاملات الحرة تسهم في تسخين هيكل شبه الموصل النقطي.